直流磁控濺射輝光等離子體的Langmuir靜電探針診斷

2020-04-18 真空技術(shù)網(wǎng) 真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報

  摘 要:與大連理工大學(xué)合作研制了新型Langmuir靜電探針.應(yīng)用研制的靜電探針,對氬氣直流磁控濺射銅等離子體進(jìn)行了軸向和徑向二維空間內(nèi)的診斷.診斷結(jié)果顯示:電子溫度隨著離靶面距離增大而遞減;電子密度在徑向和軸向均存在波動;電子能量主要分布在0 eV~5 eV范圍內(nèi),高能電子占比例極少.

  關(guān)鍵詞:直流磁控濺射;Langmuir靜電探針;等離子體;診斷

  分類號:TN305.8 文獻(xiàn)標(biāo)識碼:A

  文章編號:1672-7126(2008)增刊-079-04

Langmuir Probe Diagnosis of DC Magnetron Sputtering Glow Discharge Plasma

Wen Peigang  Yan Yue  Wang Yonglin  Wu Jianhua  Zhang Guanli  Zhang Dingguo  Lu Wenqi  Dong Chuang  Xu Jun