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SrHfON高k柵介質薄膜的漏電特性研究
采用射頻反應磁控濺射法在p-Si(100) 襯底上成功制備出SrHfON高k柵介質薄膜, 并研究了Au/SrHfON/Si MOS 電容的漏電流機制及應力感應漏電流(SILC)效應。
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真空環境中多場耦合對Au/Cu/Si薄膜界面結構的影響
采用磁控濺射方法在Si基底上制備了Au/Cu薄膜。利用掃描俄歇微探針納米化分析技術進行表面成分分析與深度剖析, 研究在真空環境中, 紫外輻照、微氧氧含量及處理溫度等因素作用對Au/ Cu薄膜界面結構的影響。
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直流磁控濺射中磁場強度和陰極電壓對圓平面靶刻蝕形貌的影響
本文借助Comsol和Matlab軟件模擬了直流磁控濺射圓平面靶系統的磁場分布和荷電粒子分布,對不同磁場強度和陰極電壓條件下的荷電粒子分布進行了模擬分析。
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射頻磁控濺射沉積Al/Al2O3納米多層膜的結構及性能
運用射頻磁控濺射技術在Si(100) 基片及40Cr鋼基體上制備了調制周期K= 60nm, 調制比G= 0.25~3的Al/A12O3納米多層膜。
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